Particle characterization in technology /

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Detalles Bibliográficos
Otros Autores: Beddow, John K.
Formato: Libro
Lenguaje:
Publicado: Boca Raton, Fla. : CRC Press, c1984.
Colección:CRC series on fine particle science and technology
Uniscience series on fine particle science and technology
Materias:
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003 AR-BCCAB
245 0 0 |a Particle characterization in technology /  |c editor, John Keith Beddow. 
260 # # |a Boca Raton, Fla. :  |b CRC Press,  |c c1984. 
300 # # |a 2 v. :  |b il. (some col.) ;  |c 27 cm. 
505 0 # |a v. 1. Applications and microanalysis -- v. 2. Morphological analysis. 
020 # # |a 0849357845 (v. 1) 
020 # # |a 0849357853 (v. 2) 
700 1 # |a Beddow, John K. 
650 # 0 |a Particles. 
650 # 0 |a Bulk solids. 
650 # 0 |a Particle size determination. 
010 # # |a ###83014363# 
050 0 0 |a TA418.78  |b .P36 1984 
504 # # |a Incluye referencias bibliográficas. 
490 1 # |a CRC series on fine particle science and technology 
490 1 # |a Uniscience series on fine particle science and technology 
040 # # |a DLC  |c DLC  |d DLC  |b spa  |d arbccab 
500 # # |a Incluye indices. 
082 0 0 |a 620/.43  |2 19 
942 # # |c BK 
952 # # |2 udc  |a ARBCCAB  |b ARBCCAB  |i 11823  |o 666.3 B391 1 Vol.1  |p 11823  |t 1  |y BK 
952 # # |2 udc  |a ARBCCAB  |b ARBCCAB  |i 11824  |o 666.3 B391 2 Vol.2  |p 11824  |t 2  |y BK