International Conference on Extended Defects in Semiconductors, Chernogolovka, Russia, 11-17 September 2004.
Guardado en:
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| Autor Corporativo: | |
| Formato: | Sin ejemplares |
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| Publicado: |
Berlin :
Wiley-VCH,
2005.
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| Colección: | Journal of Physics. Condensed Matter ;
v. 14, no. 48 (2002) |
| Materias: |
| Descripción Física: | p. [1765]-2009 : il. ; 28 cm. |
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| Bibliografía: | Incluye referencias bibliográficas. |
