Automated testing systems /

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Bell, Leonard W.
Formato: Libro
Lenguaje:
Publicado: [Beaverton, Or.] : Tektronix, [1969]
Colección:Measurement concepts
Materias:
LEADER 00806cam#a2200253ua#4500
001 BCCAB008866
008 750708s1969####oru###########000#0#eng#d
005 20141217142820.0
003 AR-BCCAB
245 1 0 |a Automated testing systems /  |c Leonard W. Bell. 
260 # # |a [Beaverton, Or.] :  |b Tektronix,  |c [1969] 
300 # # |a 272 p. :  |b il. ;  |c 23 cm. 
490 0 # |a Measurement concepts 
100 1 # |a Bell, Leonard W. 
650 # 7 |a Circuitos integrados  |2 inist 
650 # 7 |a Industrias electrónicas  |2 inist 
650 # 7 |a Electrónica  |x Mediciones  |2 lemb 
650 # 7 |a Integrated circuits  |2 inist 
650 # 7 |a Electronic industries  |2 inist 
650 # 7 |a Electronic measurements  |2 lemb 
049 # # |a AR5A 
040 # # |a ITD  |c ITD  |d OCL  |b spa  |d arbccab 
942 # # |c BK 
952 # # |2 udc  |a ARBCCAB  |b ARBCCAB  |i 122  |o 621.317 B413  |p 122  |t 1  |y BK