Introduction to the characterization of residual stress by neutron diffraction /

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Detalles Bibliográficos
Otros Autores: Hutchings, Michael T.
Formato: Libro
Lenguaje:
Publicado: Boca Raton, FL : Taylor & Francis, 2005.
Materias:
Acceso en línea:Indice
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245 0 0 |a Introduction to the characterization of residual stress by neutron diffraction /  |c M.T. Hutchings ... [et al.]. 
260 # # |a Boca Raton, FL :  |b Taylor & Francis,  |c 2005. 
300 # # |a 401 p. :  |b il. ;  |c 25 cm. 
504 # # |a Incluye referencias bibliográficas. 
020 # # |a 0415310008 (alk. paper) 
700 1 # |a Hutchings, Michael T. 
650 # 0 |a Neutron radiography. 
650 # 0 |a Residual stresses  |x Measurement. 
650 # 7 |a X-Ray diffraction  |2 inist 
650 # 7 |a Neutrografía  |2 inist 
650 # 7 |a Tensión residual  |2 inist 
650 # 7 |a Difracción de rayos x.  |2 inist 
010 # # |a ##2004054549 
050 0 0 |a TA417.25  |b .I59 2005 
040 # # |a DLC  |c DLC  |d DLC  |b spa  |d arbccab 
856 4 1 |u http://campi.cab.cnea.gov.ar/tocs/20136.pdf  |3 Indice 
082 0 0 |a 620.1/123/0287  |2 22 
942 # # |c BK 
952 # # |2 udc  |a ARBCCAB  |b ARBCCAB  |d 20070629  |i 20136  |o 620.1 H97  |p 20136  |t 1  |y BK