Analysis of residual stress by diffraction using neutron and synchrotron radiation /

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Detalles Bibliográficos
Otros Autores: Fitzpatrick, M. E., Lodini, Alain.
Formato: Libro
Lenguaje:
Publicado: London ; New York : Taylor & Francis, 2003.
Materias:
Acceso en línea:Reseña
Indice.
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245 0 0 |a Analysis of residual stress by diffraction using neutron and synchrotron radiation /  |c edited by M.E. Fitzpatrick and A. Lodini. 
260 # # |a London ;  |a New York :  |b Taylor & Francis,  |c 2003. 
300 # # |a xi, 354 p. :  |b il. ;  |c 26 cm. 
020 # # |a 0415303974 
700 1 # |a Fitzpatrick, M. E.  |q (Michael E.) 
700 1 # |a Lodini, Alain. 
650 # 0 |a Neutron radiography. 
650 # 0 |a Synchrotron radiation. 
650 # 0 |a Residual stresses. 
650 # 7 |a Radiación sincrotronica.  |2 inist 
010 # # |a ##2005279459 
050 0 0 |a TA417.25  |b .A57 2003 
504 # # |a Incluye referencias bibliográficas. 
040 # # |a UKM  |c UKM  |d C#P  |d OCLCQ  |d DLC  |b spa  |d arbccab 
500 # # |a Incluye índice. 
856 4 2 |3 Reseña  |u http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0646/2005279459-d.html 
856 4 1 |u http://campi.cab.cnea.gov.ar/tocs/20558.pdf  |3 Indice. 
082 0 4 |a 620.1124  |2 21 
942 # # |c BK 
952 # # |2 udc  |a ARBCCAB  |b ARBCCAB  |d 20080808  |e Blackwell  |g U$S185.30  |i 20558  |o 620.1 F57  |p 20558  |t 1  |y BK