Interferometría por corrimiento de fase para caracterizar materiales electro-ópticos

Interferometría por corrimiento de fase para caracterizar materiales electro-ópticos

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Rueda P., J. E.
Autor Corporativo: e-libro, Corp.
Otros Autores: Lasprilla, M. C.
Formato: Artículo
Lenguaje:Español
Publicado: Pamplona, Colombia : Universidad de Pamplona, 2006.
Materias:
Science. > Physics.
Ciencias. > Física.
Science. > optics.
Ciencias. > óptica.
Artículos electrónicos.
Acceso en línea:https://elibro.net/ereader/siduncu/5429

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