Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos /

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Infante Abreu, Marta Beatriz.
Otros Autores: Delgado Fernández, Mercedes (tutor.), Díaz Batista, Antonio (tutor.)
Formato: Tesis Libro electrónico
Lenguaje:Español
Publicado: La Habana : Editorial Universitaria, 2015.
Materias:
Acceso en línea:https://elibro.net/ereader/siduncu/90796
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100 1 |a Infante Abreu, Marta Beatriz. 
245 1 0 |a Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos /  |c autor: Marta Beatriz Infante Abreu ; tutores: Prof. Tit., Ing. Mercedes Delgado Fernández, Prof. Tit., Ing. Antonio Díaz Batista. 
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502 |a Tesis  |b Doctor en Ciencias Técnicas  |c Instituto Superior Politécnico "José Antonio Echeverría"  |d 2013. 
504 |a Contiene bibliografía. 
588 |a Descripción basada en recurso en línea; Título de la página del título en PDF (e-libro, visto March 12, 2015). 
590 |a Recurso electronico. Santa Fe, Arg. : e-libro, 2016. Disponible via World Wide Web. El acceso puede ser limitado para las bibliotecas afiliadas a e-libro. 
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