Daño por irradiación electrónica a temperatura ambiente en antimoniuro de indio tipo "P". /

Daño por irradiación electrónica a temperatura ambiente en antimoniuro de indio tipo "P". /

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Schujman, Sandra B.
Otros Autores: Saura, José., Universidad Nacional de Cuyo. Instituto Balseiro.
Formato: Libro
Lenguaje:Español
Publicado: 1988.
Materias:
Physical metallurgy > Theses.
Metalurgia física > Tesis.

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