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Conférence internationale sur ellipsométrie et autres méthodes optiques pour l'analyse des surfaces et films minces = Ellipsometry and other optical methods for surface and thin film analysis, 7-10 juin 1983, Paris, France.

Conférence internationale sur ellipsométrie et autres méthodes optiques pour l'analyse des surfaces et films minces = Ellipsometry and other optical methods for surface and thin fi...

por Conférence internationale sur ellipsométrie et autres méthodes optiques pour l'analyse des surfaces et films minces (1983 : Paris, France)
Publicado 1983.

Sin ejemplares