Conférence internationale sur ellipsométrie et autres méthodes optiques pour l'analyse des surfaces et films minces = Ellipsometry and other optical methods for surface and thin film analysis, 7-10 juin 1983, Paris, France.
Guardado en:
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| Formato: | Sin ejemplares |
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| Publicado: |
Les Ulis Cedex, France :
Éditions de physique,
1983.
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| Colección: | Journal de physique. Colloque ;
1983, C10 |
| Materias: |
| Notas: | "Europhysics journal." On spine: Ellipsométrie 83. |
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| Descripción Física: | xviii, 533 p. : il. ; 25 cm. |
| Bibliografía: | Incluye referencias bibliográficas. |
| ISBN: | 2902731698 |
