Tipo de registro dentro de su búsqueda.
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Materias dentro de su búsqueda.
Materias dentro de su búsqueda.
1
por International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (16h : 2008 : Atagawa Heights, Higashi-izu, Japan)
Publicado 2009.
Publicado 2009.
Sin ejemplares
2
por International Conference on Scanning Probe Microscopy, Cantilever Sensors and Nanostructures (1st : 1999 : Seattle)
Publicado 2000.
Publicado 2000.
Sin ejemplares
3
por International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (8th : 2000 : Shizuoka-ken, Japan)
Publicado c2001.
Publicado c2001.
Sin ejemplares
4
por International Conference on Scanning Probe Microscopy, Sensors and Nanostructures (2nd : 2000 : Heidelberg, Germany)
Publicado 2001.
Publicado 2001.
Sin ejemplares