SPM '99 : proceedings of the International Conference on Scanning Probe Microscopy, Cantilever Sensors and Nanostructures, Seattle, USA, May-June1, 1999 /

SPM '99 : proceedings of the International Conference on Scanning Probe Microscopy, Cantilever Sensors and Nanostructures, Seattle, USA, May-June1, 1999 /

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor principal: International Conference on Scanning Probe Microscopy, Cantilever Sensors and Nanostructures (1st : 1999 : Seattle)
Autor Corporativo: International Conference on Scanning Probe Microscopy, Cantilever Sensors and Nanostructures
Otros Autores: Hörber, J. K. Heinrich.
Formato: Sin ejemplares
Lenguaje:
Publicado: Amsterdam : Elsevier, 2000.
Materias:
Scanning probe microscopy > Congresses.
Detectors > Congresses.
Nanostructures > Congresses.
Descripción
Notas:Issued as: Ultramicroscopy, v. 82, nos. 1-4 (Feb. 2000).
Incluye indices.
Descripción Física:xiii, 314 p. : il. (some col.) ; 27 cm.
Bibliografía:Incluye referencias bibliográficas.

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