Transmission electron microscopy : physics of image formation and microanalysis /
Guardado en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Formato: | Libro |
| Lenguaje: | Inglés |
| Publicado: |
Berlin :
Springer,
c1997.
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| Edición: | 4th ed. |
| Colección: | Springer series in optical sciences,
v. 36 |
| Materias: |
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| Inventario | Ej. | Ubicación | Disponibilidad | Estado de Circulación |
|---|---|---|---|---|
| 16102 | 1 | 537.533.35 R274 Ed.4 | Sala | Disponible |
