Transmission electron microscopy : physics of image formation and microanalysis /

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor principal: Reimer, Ludwig, 1928-
Formato: Libro
Lenguaje:Inglés
Publicado: Berlin : Springer, c1997.
Edición:4th ed.
Colección:Springer series in optical sciences, v. 36
Materias:
LEADER 00955pam#a2200253#a#4500
001 BCCAB002606
008 970130s1997####gw#a#####b####001#0#eng##
005 20120111132439.0
003 AR-BCCAB
245 1 0 |a Transmission electron microscopy :  |b physics of image formation and microanalysis /  |c Ludwig Reimer. 
250 # # |a 4th ed. 
260 # # |a Berlin :  |b Springer,  |c c1997. 
300 # # |a xvi, 584 p. :  |b il. ;  |c 24 cm. 
490 0 # |a Springer series in optical sciences,  |v v. 36  |x 0342-4111 ; 
504 # # |a Incluye referencias bibliográficas (p. [495]-569) e índice. 
020 # # |a 3540625682 (Berlin : hardcover : acid-free paper) 
100 1 # |a Reimer, Ludwig,  |d 1928- 
080 # # |a 537.533.35 
650 # 0 |a Transmission electron microscopy. 
650 # 7 |a Microscopía electrónica por transmisión.  |2 inist 
040 # # |a DLC  |c DLC  |d DLC  |b spa  |d arbccab 
082 0 0 |a 502/.8/25  |2 21 
942 # # |c BK 
952 # # |2 udc  |a ARBCCAB  |b ARBCCAB  |i 16102  |o 537.533.35 R274 Ed.4  |p 16102  |t 1  |y BK