Ion beam surface layer analysis ; proceedings of the International Conference held on June 18-20, 1973, in Yorktown Heights, N.Y., and sponsored by the National Science Foundation and the IBM Corporation /
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Formato: | Libro |
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Publicado: |
Lausanne :
Elsevier Sequoia S.A.,
1974.
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Materias: |
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Instituto Balseiro
Inventario | Ej. | Ubicación | Disponibilidad | Estado de Circulación |
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4428 | 1 | 537.534:061.3 I8 1973 | Sala | Disponible |