Frontiers of electron microscopy in materials science : proceedings of the sixth Conference on Frontiers in Electron Microscopy in Materials Science, Oak Brook, Illinois, USA, 4-7 June 1996.
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Formato: | Sin ejemplares |
Lenguaje: | |
Publicado: |
Amsterdam :
Elsevier Science,
c1997.
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Colección: | Ultramicroscopy,
v. 67, no. 1-4 |
Materias: |
Notas: | "The sixth Conference on Frontiers of Electron Microscopy in Materials Science"--Foreword. Edited by: Stevan A. Bradley, Charles W. Allen, Wayne E. King. Incluye indices. |
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Descripción Física: | vii, 238 p. : il. ; 27 cm. |
Bibliografía: | Incluye referencias bibliográficas. |
ISSN: | 0304-3991 ; |