Defect processes induced by electronic excitation in insulators /

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Otros Autores: Itoh, Noriaki.
Formato: Libro
Lenguaje:
Publicado: Singapore : World Scientific, c1989.
Acceso en línea:http://campi.cab.cnea.gov.ar/tocs/18602.pdf

Para reservar material debe primero ingresar al sistema

Instituto Balseiro

InventarioEj.UbicaciónDisponibilidadEstado de Circulación
18602 1 5838.9 Sala Disponible

Acceso Online

http://campi.cab.cnea.gov.ar/tocs/18602.pdf