Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM, and AEM /
Guardado en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Formato: | Libro |
| Lenguaje: | Inglés |
| Publicado: |
New York, NY :
Springer,
c2005.
|
| Materias: | |
| Acceso en línea: | Indice |
Para reservar material debe primero ingresar al sistema
Instituto Balseiro
| Inventario | Ej. | Ubicación | Disponibilidad | Estado de Circulación |
|---|---|---|---|---|
| 20543 | 1 | 537.533.35 E292 | Sala | Disponible |
