Estudio por microscopía electrónica de los defectos de irradiación en el aluminio /

Estudio por microscopía electrónica de los defectos de irradiación en el aluminio /

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Alvarez de la Colina de Nuñez Regueiro, M. Dolores.
Otros Autores: Guyot, Pierre., Universidad Nacional de Cuyo. Instituto de Física "Dr. José A. Balseiro".
Formato: Libro
Lenguaje:Español
Publicado: 1977.
Materias:
Solids. > Theses.
Radiation damage. > Theses.
Solidos. > Tesis.
Descripción
Notas:Director de tesis: Pierre Guyot.
Descripción Física:23 h. : il, fig. ; 30 cm.
Bibliografía:Incluye bibliografía: p. 17

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