Estudio por microscopía electrónica de los defectos de irradiación en el aluminio /

Estudio por microscopía electrónica de los defectos de irradiación en el aluminio /

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Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Alvarez de la Colina de Nuñez Regueiro, M. Dolores.
Otros Autores:	Guyot, Pierre., Universidad Nacional de Cuyo. Instituto de Física "Dr. José A. Balseiro".
Formato:	Libro
Lenguaje:	Español
Publicado:	1977.
Materias:	Solids. > Theses. Radiation damage. > Theses. Solidos. > Tesis.

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