Proceedings of the 20th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-20 held in Berkeley, CA, USA, 26-30 July 1999 /

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: International Conference on Defects in Semiconductors (20th : 1999 : Berkeley, Calif.)
Autor Corporativo: International Conference on Defects in Semiconductors
Otros Autores: Van de Walle, Chris Gilbert., Walukiewicz, Wladek.
Formato: Sin ejemplares
Lenguaje:
Publicado: Amsterdam : Elsevier, c1999.
Colección:Physica. B, Condensed matter ; v. 273-274
Materias:
Descripción
Notas:Incluye indices.
Descripción Física:xxv, 1063 p. : il. ; 27 cm.
Bibliografía:Incluye referencias bibliográficas.