Curso básico de microscopia electrónica de barrido y microanálisis : Madrid, 11-12-13 de Junio de 1985, CENIM [...] /

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Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Curso básico de microscopia electrónica de barrido y microanálisis (1985 jun. 11-13 : Madrid)
Autor Corporativo:	Curso básico de microscopia electrónica de barrido y microanálisis
Otros Autores:	Aballe, M., Fundamentos de la microscopia electrónica de barrido., Centro Nacional de Investigaciones Metalurgias (España), Sociedad Española de Microscopia Electrónica.
Formato:	Libro
Lenguaje:
Publicado:	Madrid : CENIM, 1985.

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Inventario	Ej.	Ubicación	Disponibilidad	Estado de Circulación
11569	2	537.533.35:061.3 C939 1985 Pte.2	Sala	Disponible
11568	1	537.533.35:061.3 C939 1985 Pte.1	Sala	Disponible

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