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| LEADER |
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| 008 |
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| 005 |
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| 001 |
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| 003 |
AR-BCCAB |
| 245 |
1 |
0 |
|a Curso básico de microscopia electrónica de barrido y microanálisis :
|b Madrid, 11-12-13 de Junio de 1985, CENIM [...] /
|c Centro Nacional de Investigaciones Metalurgias, Sociedad Española de Microscopia Electrónica.
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| 260 |
# |
# |
|a Madrid :
|b CENIM,
|c 1985.
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| 300 |
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# |
|a 2 p. :
|b il.
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| 504 |
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# |
|a Incluye referencias bibliográficas.
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| 505 |
0 |
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|a Pte. 1 Fundamentos de la microscopia electronica de barrido / M. Aballe. La señal de electrones secundarios / José María Badí Pérez. Técnicas especiales de mocroscopía electrónica de barrido para el análisis de dispositivos semiconductores / E. Montero. -- Pte. 2 Fundamento y características de la microsonda electrónica / por J. López Ruiz. Análisis cuantitativo. Método ZAF / P. Adeva. Estudio comparativo de los distintos procedimeintos analíticos / José María Badía Pérez. Microanálisis de láminas delgadas / Jesús Ma. Rincón López. Canalización de electrones / M. Aballe.
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| 111 |
2 |
# |
|a Curso básico de microscopia electrónica de barrido y microanálisis
|n (1985 jun. 11-13 :
|d Madrid)
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| 700 |
1 |
# |
|a Aballe, M.,
|c Fundamentos de la microscopia electrónica de barrido.
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| 710 |
2 |
# |
|a Centro Nacional de Investigaciones Metalurgias (España)
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| 710 |
2 |
# |
|a Sociedad Española de Microscopia Electrónica.
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| 080 |
# |
# |
|a 537.533.35:061.3
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| 040 |
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# |
|a arbccab
|b spa
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| 500 |
# |
# |
|a Fotocopia.
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| 942 |
# |
# |
|c BK
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| 952 |
# |
# |
|2 udc
|a ARBCCAB
|b ARBCCAB
|i 11568
|o 537.533.35:061.3 C939 1985 Pte.1
|p 11568
|t 1
|y BK
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| 952 |
# |
# |
|2 udc
|a ARBCCAB
|b ARBCCAB
|i 11569
|o 537.533.35:061.3 C939 1985 Pte.2
|p 11569
|t 2
|y BK
|
