Curso básico de microscopia electrónica de barrido y microanálisis : Madrid, 11-12-13 de Junio de 1985, CENIM [...] /
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| Otros Autores: | , , |
| Formato: | Libro |
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Madrid :
CENIM,
1985.
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Tabla de Contenidos:
- Pte. 1 Fundamentos de la microscopia electronica de barrido / M. Aballe. La señal de electrones secundarios / José María Badí Pérez. Técnicas especiales de mocroscopía electrónica de barrido para el análisis de dispositivos semiconductores / E. Montero.
- Pte. 2 Fundamento y características de la microsonda electrónica / por J. López Ruiz. Análisis cuantitativo. Método ZAF / P. Adeva. Estudio comparativo de los distintos procedimeintos analíticos / José María Badía Pérez. Microanálisis de láminas delgadas / Jesús Ma. Rincón López. Canalización de electrones / M. Aballe.
