High-resolution X-ray scattering from thin films and multilayers /

High-resolution X-ray scattering from thin films and multilayers /

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor principal: Holý, Václav, 1953-
Otros Autores: Pietsch, Ullrich, 1952-, Baumbach, Tilo, 1961-
Formato: Libro
Lenguaje:
Publicado: Berlin ; New York : Springer, c1999.
Colección:Springer tracts in modern physics, v. 149
Materias:
Thin films > Optical properties.
Thin films, Multilayered > Optical properties.
X-rays > Scattering.
X-rays > Diffraction.
Descripción
Notas:Incluye índice.
Descripción Física:xi, 256 p. : il. ; 25 cm.
Bibliografía:Incluye referencias bibliográficas.
ISBN:354062029X (hardcover : alk. paper)
ISSN:0081-3869 ;

Ejemplares similares