Transmission electron microscopy and diffractometry of materials /

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor principal: Fultz, B.
Otros Autores: Howe, James M., 1955-
Formato: Libro
Lenguaje:
Publicado: Berlin ; New York : Springer, c2002.
Edición:2nd ed.
Materias:
Acceso en línea:Indice
LEADER 01156cam#a22003254a#4500
005 20070215083916.0
008 020529s2002####gw#a###f#b####001#0#eng##
001 BCCAB013649
003 AR-BCCAB
245 1 0 |a Transmission electron microscopy and diffractometry of materials /  |c Brent Fultz, James Howe. 
250 # # |a 2nd ed. 
260 # # |a Berlin ;  |a New York :  |b Springer,  |c c2002. 
300 # # |a xxi, 748 p. :  |b il. ;  |c 24 cm. 
020 # # |a 3540437649 (alk. paper) 
100 1 # |a Fultz, B.  |q (Brent) 
700 1 # |a Howe, James M.,  |d 1955- 
650 # 0 |a Materials  |x Microscopy. 
650 # 0 |a Transmission electron microscopy. 
650 # 0 |a X-ray diffractometer. 
650 # 7 |a Microscopía electrónica por transmisión  |2 inist 
650 # 7 |a Difractómetros de rayos X  |2 inist 
010 # # |a ##2002070720 
050 0 0 |a TA417.23  |b .F85 2002 
504 # # |a Incluye referencias bibliográficas. 
040 # # |a DLC  |c DLC  |d DLC  |b spa  |d arbccab 
500 # # |a Incluye índice. 
856 4 1 |3 Indice  |u http://campi.cab.cnea.gov.ar/tocs/19990.pdf 
082 0 0 |a 620.1/1299  |2 21 
942 # # |c BK 
952 # # |2 udc  |a ARBCCAB  |b ARBCCAB  |d 20070216  |e Amazon  |i 19990  |o 537.533.35 F974 Ed.2  |p 19990  |t 1  |y BK