Transmission electron microscopy and diffractometry of materials /
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| Autor principal: | |
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| Otros Autores: | |
| Formato: | Libro |
| Lenguaje: | |
| Publicado: |
Berlin ; New York :
Springer,
c2002.
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| Edición: | 2nd ed. |
| Materias: | |
| Acceso en línea: | Indice |
