Sistemas de muestreo para la inspección por atributos IRAM 15-0. parte 0, introducción.
Guardado en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Formato: | Libro |
| Lenguaje: | Español |
| Publicado: |
Buenos Aires :
IRAM,
2009.
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| Edición: | 2a. ed. |
| Colección: | Sampling system for inspection by attributes. |
| Materias: |
Para reservar material debe primero ingresar al sistema
Fac. de Ciencias Aplicadas a la Industria
| Inventario | Ej. | Ubicación | Disponibilidad | Estado de Circulación |
|---|---|---|---|---|
| OIN8309 | 006.35 : 658.56 IRAM | Sala | Disponible |
