Sistemas de muestreo para la inspección por atributos IRAM 15-0. parte 0, introducción.
Guardado en:
Autor principal: | |
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Formato: | Libro |
Lenguaje: | Español |
Publicado: |
Buenos Aires :
IRAM,
2009.
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Edición: | 2a. ed. |
Colección: | Sampling system for inspection by attributes. |
Materias: |
Notas: | corresponde a la revisión parcial de la edición de diciembre de 1973, ala que esta parte de la segunda edición, junto con las partes 1 y 2 de esta norma, reemplaza. impresión termosellada. referencia numérica:IRAM 15-0. |
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Descripción Física: | 75p. |