Sistemas de muestreo para la inspección por atributos IRAM 15 - 2. ISO 2859-2. parte 2. Planes de muestreo para las inspecciones de lotes aislados, tabulados según la calidad límite ( LQ).
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| Formato: | Libro |
|---|---|
| Lenguaje: | Español |
| Colección: | Sampling system for inspection by attributes. |
| Materias: |
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Fac. de Ciencias Aplicadas a la Industria
| Inventario | Ej. | Ubicación | Disponibilidad | Estado de Circulación |
|---|---|---|---|---|
| OIN8311 | 006.35 : 658.56 IRAM | Sala | Disponible |
