Sistemas de muestreo para la inspección por atributos IRAM 15 - 2. ISO 2859-2. parte 2. Planes de muestreo para las inspecciones de lotes aislados, tabulados según la calidad límite ( LQ).

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Detalles Bibliográficos
Formato: Libro
Lenguaje:Español
Colección:Sampling system for inspection by attributes.
Materias:
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092 # # |s Obras de referencia y consulta  |c 006.35 : 658.56 IRAM 
240 # # |a Sampling system for inspection by attributes.   |n part 2,   |p Sampling plans indexed by limiting quality ( LQ) for isolated lot inspection. 
245 # # |a Sistemas de muestreo para la inspección por atributos IRAM 15 - 2. ISO 2859-2.   |n parte 2.  |p Planes de muestreo para las inspecciones de lotes aislados, tabulados según la calidad límite ( LQ).   |c Instituto Argentino de Racionalización de Materiales IRAM. 
300 # # |a 38p. :   |b tablas 
500 # # |a corresponde a la revisión parcial de la edición de diciembre de 1973, ala que esta parte de la segunda edición, junto con las partes 0 y 1 de esta norma, reemplaza. 
500 # # |a impresión termosellada. 
500 # # |a referencia numérica:IRAM 15 -2:2010 ; ISO 2859-2: 1985. 
650 # 4 |a NORMALIZACION  |2 Unesco 
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866 # 0 |a 1 Ej. 
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