SPM 2000 : proceedings of the second International Conference on Scanning Probe Microscopy, Sensors and Nanostructures : Heidelberg, Germany, May 28-31, 2000 /
Guardado en:
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| Autor Corporativo: | |
| Otros Autores: | |
| Formato: | Sin ejemplares |
| Lenguaje: | |
| Publicado: |
Amsterdam ; New York :
Elsevier,
2001.
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| Colección: | Ultramicroscopy ;
v. 86, nos. 1/2 |
| Materias: |
| Descripción Física: | xii, 254 p. : il. ; 26 cm. |
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| Bibliografía: | Incluye referencias bibliográficas. |
